產品介紹：

LPS-50可對器件進行非破壞性的測試，器件的尺寸可達到2in(最大可定制4in)。系統的探針、測試電纜、樣品架都有多種類型可供選擇，從而滿足不同用戶的需要。

產品優勢：

● 測量DC到67GHz

● 控溫穩定性：80-100K時，控溫精度±50mK；100-500K時，控溫精度±0.1K

● 最多可使用6個探針臂

● 測試樣品尺寸2in(最大可定制4in）

● 探針臂傳上可安裝溫度感器進行溫度監測

● 探針臂3軸方向可調節，并可進行面內±5°旋轉

● 可提供不同的選件和附件來滿足特定的科研測試需要

● 電纜、屏蔽和Guard保護進一步減少了電噪聲和熱輻射損失

● 系統使用液氮制冷，基本系統溫度范圍：80K -500k 

產品應用：

LPS-50為材料或器件的電學特性測量、光電特性測量、參數測量、 high Z 測量、DC 測量、RF 測量和微波特性測量提供一個測試平臺。