Hanwa產品
T5000 高性能TLP & VF-TLP
G5000 最高2048pin ESD測試儀
C5000R 全自動CDM測試儀
W5000M 晶圓級ESD測試儀
S5000R 最高256pin ESD測試儀
HCE-5000 便攜式ESD測試儀
開循環極低溫探針臺 閉循環極低溫探針臺 閉循環磁場探針臺 低溫磁場探針臺 ICE低溫恒溫器 磁場產品
MPI手動直流射頻晶圓級探針臺 MPI半自動直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動直流射頻晶圓級探針臺 MPI高功率直流射頻晶圓級探針臺 MPI射頻探針 MPI全自動KGD系統 MPI全自動分選機 MPI全系列測試耗材
臺階儀 熱流儀 酸/激光開封機 EMMI微光顯微鏡系列 先進封裝時域失效分析 Hitachi日立掃描電子顯微鏡 瞬態熱阻測試儀 拉曼光譜檢測應用 IV曲線追蹤測試儀
Keithley Maury Keisight 概倫電子 R&S 網絡分析儀 Farran毫米波系統 晶圓級動態功率測試系統 IWATSU半導體曲線圖示儀 化合物功率器件動態老化HTOL測試機
OKMETIC硅片產品 應用領域 化學機械拋光機 CMP 后清洗機
MSA-650 IRIS 顯微式激光測振儀 MSA-600顯微式激光測振儀 MSA-100-3D顯微式激光測振儀 MSA-060顯微式激光測振儀
低真空鍍膜產品 高真空鍍膜產品 國產高頻110G-500G探針
探針冷熱臺 外置探針冷熱臺 掃描電鏡冷熱臺 XRD原位冷熱臺
3D X射線掃描儀Xray 方塊電阻測量系統 探針式輪廓儀 光學輪廓儀 納米壓痕儀
CP測試設備 KGD測試設備 WLBI測試設備 氮氣加熱系統
阻抗調諧器 有源負載牽引系統 脈沖 IV 測試系統
英鉑實驗室測試中心現有測試類型：直流測試、射頻測試、
高壓大電流測試、光電測試、極低溫磁場測試、ESD/TLP測試、PCB板級測試等
產品介紹：
探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學測試而設計的產品，可表征材料升溫和降溫階段，其電學性能隨溫度變化的特征。
產品優勢：
· 溫度范圍：-190~600℃
· 溫度穩定性：±0.1℃
· 支持反射/透射模式
· 按需配置二/四/八探針/微型探針
· 氣密腔室，可通保護氣體
· 腔室可升級真空腔室（10^−3 mbar）
· 上位機軟件控制
· 可配套溫度、電學測試軟件
· 支持改動或定制
產品應用：
該產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現樣品臺-190~600℃范圍內精準控制，可與顯微鏡、電學儀表（如源表、萬用表等）等搭配集成，進行變溫原位測試。
上海市松江區廣富林東路199號啟迪漕河涇三期13幢2層
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