產(chǎn)品測試功能
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Hanwa HED-C5000R CDM測試儀
測試能力：
1、支持 CDM模型的 Package Level 測試；
2、放電電壓：CDM：4KV；
3、支持多種封裝形式及小型器件
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Hanwa HED-G5000 HBM/MM測試機
測試能力：
1、支持 HBM 及 MM 的 Package Level
2、測試；放電電壓：HBM：8KV；MM：4KV
3、可自制夾具，支持多種封裝測試
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Hanwa HED–T5000–HC TLP測試機
測試能力：
1、支持 wafer level，package level， component level 測試
2、支持搭配自動探針臺實現(xiàn)自動測試
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Hanwa HCE-5000手動便攜式ESD測試機
測試能力：
1、支持HBM及MM的Package Level測試；
2、放電電壓：HBM：8KV MM：4KV；
3、可自制夾具，支持多種封裝測試
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Keithley 4200A-SCS 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
測試能力
1、200V 1A IV 特性測試，適用于二極管 Diode，電阻Resistor，三極管 BJT， MOSFET 等測試
2、10KHz to 10MHz CV 測試
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Keysight B1505A 功率器件測試分析儀
測試能力
1、3KV 20A（pulse）IV 特性測試，適用于低功率以及高功率二極管 Diode， 三極管 BJT，電阻 Resisrot
2、金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管 MOSFET，SiC & GaN MOSFET，Diode 測試
3、CV 測試：10KHz—5MHz
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R&S ZNB40 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
測試能力
1、100MHz—40GHz 四端口 S 參數(shù)測試
2、Z 參數(shù)以及 Y 參數(shù)測試
3、時域分析，特性阻抗以及差分阻抗測試
4、無線充電效能測試，包括有源低功率放大器，濾波器， 天線，衰減器，射頻開關(guān)等測試
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MPI TS2000-HP半自動測試 8寸探針臺
測試能力
1、8 寸及以下晶圓級高壓測試
2、低漏電器件材料表征測試，光電器件表征
3、可與各類儀表搭配，進行半自動測試，如IV 測試，雙端口RF 器件測試等
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MPI TS200-SE 8寸手動探針臺
測試能力
1、8寸及以下晶圓級高低溫高頻測試
2、低漏電器件材料測試，光電器件表征
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MPI W1半自動測試6寸探針臺
測試能力
1、6寸及以下晶圓級半自動IV測試
2、單顆die移動速度250ms
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FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)
測試能力
1、0.1fA靈敏度，30fA精度，直流1A，脈沖3A，脈寬50us，電壓200V
2、適用于IV測試
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LPS-50高低溫真空開循環(huán)探針臺
測試能力
1、低溫真空探針臺可以對器件進行非破壞性的測試，器件最大尺寸可達到51mm(2inch)
2、它可以對材料或器件的電學(xué)特性測量、光電特性測量、參數(shù)測量、high Z測量、DC測量等提供一個測試平臺
3、配置射頻支臂可在極低溫下進行高頻測試
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MPI S6 6寸全自動探針臺
測試能力
6寸及以下晶圓級半自動IV測試
