The solution/解決方案
Pre-RF Pulsed IV測量徹底改變晶體管緊湊建模
近期于 IEEE MTT-S 2024 上，MPI 與 Maury Microwave 共同展示了通過預射頻脈沖 IV 測量來徹底變革晶體管緊湊建模。
這是 AMCAD Engineering 和 Maury Microwave 在 MPI 的 TS200 探針臺上所進行的演示，即使用 Nano5G 調諧器與 AMCAD 的脈沖 IV 系統 AM3200 集成的晶圓測量。所有設備都將借助 #IVCAD 軟件進行控制，以此來優化產品性能與用戶的體驗。
以預射頻脈沖 IV 測量徹底革新晶體管建模：
此項尖端技術把可變前射頻脈沖與脈沖 IV 測量加以結合，由 AMCAD 的高功率 Pulsed-IV 脈沖發生器以及 Maury Microwave 的毫米波 #Nano5G 調諧器提供動力支持。該方法能夠精確控制輸入和輸出阻抗，實現電荷捕獲狀態的動態演變，并且在大信號操作期間更為準確地描述晶體管的行為。
這項創新的主要優勢：
精確的晶體管表征：雙脈沖測量技術通過提供參數電流源，動態考慮高功率負載牽引工作條件下的捕獲效應，從而加快了 GaN 晶體管緊湊模型的提取速度。
數據完整性：基于 VNA 的負載牽引系統可確保小信號和大信號數據之間實現無縫對齊，這對于高效提取模型而言至關重要。
