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差分射頻探針
產品概要：
差分射頻探針擴展了 MPI 專有的 TITAN™射頻探測技術，用于表征射頻集成電路。
基本信息：
該探針具有多達 15 個觸點，每個觸點的射頻帶寬高達 6 GHz，間距從 50 到 300μm 不等，完全可根據您的測試需求進行配置。使用在線設計捕獲表通過根據您的 IC 焊盤布局選擇射頻信號（S）、邏輯（L）和電源（P）通道來構建您的探頭。
技術優勢：
差分射頻探針可以通過使用模塊化設計、預標準化組件和 MPI 自己的基于 MEMS 的探頭尖端技術進行單獨配置，該技術可以快速交付。差分射頻探針，它能夠對大型集成電路進行寬溫度范圍的表征，并且在屏蔽環境中使用更方便。它的尺寸與標準射頻探頭完全兼容，因此它允許象限測試配置，而無需進一步重新調整。差分射頻探針旨在降低現代高度集成射頻集成電路的測試成本。它提供了 20μm 的接觸寬度與較小的探頭間距（從 50μm 開始）、較長的壽命（在鋁焊盤上超過 100 萬次觸地周期）、經濟實惠的價格和較短的交貨時間的獨特組合。
差分射頻探針采用 MEMS 觸點尖端，阻抗嚴格控制。它們確保高度可重復的校準和測量結果，以及在寬溫度范圍和多次接觸循環次數下均勻的接觸特性。
與任何其他 MPI 射頻探頭一樣，差分射頻探針由于獨特的突出尖端設計，可提供尖端觸點的出色實時可視化。
主要應用：
差分射頻探針的主要應用領域包括射頻集成電路（RF IC）的表征和測試。該探頭通過多觸點設計，能夠同時對多個信號通道進行測試，特別適用于高度集成的RF IC的測試需求。
